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模擬環(huán)境試驗設備選購(附技術資料)指南

  • 發(fā)布日期:2011-11-17      瀏覽次數(shù):3747
    • 模擬環(huán)境試驗設備常用有:高低溫試驗箱,恒溫恒濕測試箱,紫外線老化試驗箱,耐光色牢度試驗機,冷熱沖擊試驗箱(高低溫沖擊試驗箱),低溫彎折試驗機,紫外線耐黃變試驗箱,換氣型老化試驗箱,低溫耐寒試驗機,鹽水噴霧試驗箱等。
      附:可編程恒溫恒濕試驗箱技術資料
      恒溫恒濕試驗箱可用于電子零件、工業(yè)材料、電子電工產品、玩具、鞋材、紡織、家具等進行恒定濕熱,復雜高低溫濕熱交變試驗。
      實驗室恒溫恒濕箱,試驗前調濕樣品,可提供相對濕度20%-98%±2,溫度范圍0ºC至94±2ºC。
      能保證可靠的運行和數(shù)據(jù)的。使溫濕度以連續(xù)信號輸出,控制精度高,波動小,空調室內溫濕度均勻 。箱體外表靜電粉末噴涂或不銹鋼任選
      一、儀器功能:
      可靠的性能。抗震、抗潮、抗磁性能*;
      操作更方便。溫濕度可自行設定;
      經(jīng)久耐用。工作室選用不銹鋼。采用鏡面不銹鋼內膽,四角半圓弧易清潔,箱內擱板間距可調。
      微電腦溫度濕度控制器,控溫控濕可靠。壓縮機等關鍵零部件均采用進口產品。
      設有獨立限溫報警系統(tǒng),超過限制溫度即自動中斷,保證實驗安全運行,不發(fā)生意外。

      主要參數(shù):


      產名
      名稱

      型號
      規(guī)格

      工作室尺寸

      溫度
      范圍

      濕度
      范圍

      溫度均
      勻度

      溫度波
      動度

      溫度
      偏差

      濕度
      偏差

      恒溫
      恒濕
      試驗

      TSC029-100

      400×500×500

      -20℃
      -40℃
      -70℃-100℃
      (150℃)

      35-98%RH

      ±2℃

      ±0.5℃

      ±2℃

      +2
      -3%

      TSC029-150

      500×600×500

      TSC029-225

      600×750×500

      TSC029-250

      630×790×500

      TSC029-408

      800×900×550

      TSC029-1000

      1000×1000×1000

      產名名稱

      型號
      規(guī)格

      降溫
      速度

      功率
      (KW)

      電源
      電壓

      備注

      恒溫
      恒濕
      試驗

      TSC029-100

      0.7-1.5
      ℃/min
      .

      5

      AC220V
      或 AC380V
      50HZ

      1、恒溫恒濕試驗箱采用進口溫控儀。
      2、恒溫恒濕試驗箱采用法國原裝泰康制冷壓機及配件。
      3、恒溫恒濕試驗箱加濕方式采用飽和氣體加濕方式。
      4、恒溫恒濕試驗箱內膽為不銹鋼、外殼為冷軋鋼板噴涂。
      5、恒溫恒濕試驗箱配備超溫超壓保護功能。
      6、恒溫恒濕試驗箱加濕系統(tǒng)具有缺水、斷相報警功能。

      TSC029-150

      6

      TSC029-225

      8

      TSC029-250

      12

      TSC029-408

      15

      TSC029-1000

      20

      模擬環(huán)境試驗設備概括
      環(huán)境試驗設備設計、生產的依據(jù)是環(huán)境試驗方法,隨著生產力的進步、國民經(jīng)濟的發(fā)展,環(huán)境試驗方法的日臻豐富,相應的環(huán)境試驗設備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗能可靠、持續(xù)地得到實施,這就需要有*,性能合格的試驗設備,而要達到這一要求,就需有一個統(tǒng)一衡量試驗設備尺度即環(huán)境試驗設備標準,以及環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定標準。
      我國的環(huán)境試驗設備標準(以下簡稱“設備標準”)及電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法標準(以下簡稱“方法標準”)起草、發(fā)布、實施于二十世紀八十年代中期。

      如要了解更詳細的技術資料,可直接:/  :胡

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